GTEM小室是根據同軸及非對稱矩陣傳輸線原理設計而成的測試系統(tǒng)。其輸入端采用N型同軸接頭，隨后中心導體展平成為一塊扇形板，稱為芯板，與底板共同構成特定的結構。當信號源經過放大后通過N型同軸接頭注入到GTEM小室的一端時，能在芯板和底板之間形成很強的均勻電磁場。并且電場強度與從N型接頭輸入信號電壓V成正比，與芯板距底板垂直距離h成反比，即E=V/h；在50Ω匹配的系統(tǒng)中，芯板對底板的電壓與N型接頭的信號輸入功率之間也有明確關系。
 

　　為了避免內部電磁波的反射和諧振，GTEM小室在外形上被設計成尖形(錐形)，同時在腔體的末端還安放了吸波材料，端面也貼有吸波材料，用于進一步吸收發(fā)射到末端的電磁波。放置在被測件附近的電場監(jiān)視探頭可監(jiān)測該場強，再經由計算機得到輸入功率值，從而直接調節(jié)信號源以達到所需求的場強值。
 

　　GTEM小室優(yōu)點：
 

　　1.頻率范圍廣：其頻率可從直流至數GH以上，能滿足不同頻率下的測試需求。
 

　　2.內部可用場區(qū)大：相比一些其他測試設備，GTEM小室的內部空間較大，提供了更大的可用場區(qū)，便于放置不同尺寸的被測物體。
 

　　3.對被測物體限制少：對被測物體大小的限制與頻率無關，不像某些傳統(tǒng)測試方法會因頻率變化而對被測物尺寸有所制約。
 

　　4.造價相對較低：總體造價較為親民，能夠為多數企業(yè)所接受，降低了企業(yè)的測試成本。
 

　　5.測試功能*：既可以用于電磁輻射敏感度的測量，也可進行電磁輻射干擾的測試，為電磁兼容的測試與評估提供了強有力的手段。
 

　　6.測試效率高、精度高、重現(xiàn)性好：GTEM測試更快速，且精度較高，實驗結果的重現(xiàn)性好，能保證測試數據的可靠性和有效性。
 

　　7.環(huán)境適應性強：使用時對外界環(huán)境無特殊要求，繼承了非對稱式TEM小室損耗小、場強均勻、場強準確可調等優(yōu)點，還吸取了無反射室可測頻率高的優(yōu)點。